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1 解説
ＳＴＭ (Scanning Tunneling Microscope) の略で、０．１ナノメータオーダまで測定できる３次元測定器である。導電性試料表面と金属針との間に間隙をもたせて数Ｖの電圧でも通常は電流が流れない。間隙が数ｎｍ以下になるとトンネル電流が流れる。電流が一定になるように金属針を制御することで精密測定ができる。測定できる試料は導電性物体に限られる。
2 所見
特になし
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